TEM分析エンジニアとして、TEM(透過電子顕微鏡)を使用した半導体や電子材料の解析業務や顧客との打ち合わせ、顧客との立ち合い観察などの業務をお任せします。
FIB / TEMを活用した膜厚・構造解析中心の観察・分析サービス)
93名 勤務時間 09 : 00〜 18 : 00 応募条件 【必須】■理系の学部学科をご卒業されている方 未経験活躍中!
TEM使用経験(一年以上)
126日 契約期間 契約社員
Tem • 日本 北海道